深圳京都玉崎株式会社

LASERTEC 膜厚不均匀检查装置 MR300

品牌:LASERTEC  规格:高解像光学系により、イメージセ...

用途:レジスト、カラーフィルタおよび各種デポ膜の膜厚不均...

LASERTEC 光刻工艺检测装置 LX330

品牌:LASERTEC  规格:独自の光学系による高感度CD測定...

用途:リソグラフィ工程におけるウェハ面内・ショット内・チ...

LASERTEC 光刻工艺检测装置 LX530

品牌:LASERTEC  规格: 高S/N撮像信号により高感度CD測...

用途:リソグラフィ工程におけるウェハ面内・ショット内・チ...

LASERTEC TSV背面抛光过程测量装置 BGM300...

品牌:LASERTEC  规格:独自の干渉計とIR光学系の組み合...

用途:TSV裏面研磨プロセス前のSi厚さ/TSV深さの測定 TSV裏...

LASERTEC 晶圆凸点检测测量装置 BIM300

品牌:LASERTEC  规格: コンフォーカル光学系による高...

用途:TSVプロセスにおけるバンプの高さ、幅、形状の測定と...