深圳京都玉崎株式会社

LASERTEC 光掩模缺陷检测系统 MATRICS X700 HiT...

品牌:LASERTEC  规格: デザインノード28nmの半導体デ...

用途:フォトマスク製造工程における出荷前検査 ウェハファ...

LASERTEC 光掩模缺陷检测系统 MATRICS X700系列...

品牌:LASERTEC  规格:hp45nmノード以降の最先端フォト...

用途:「フォトマスク欠陥検査装置　MATRICS X700シリーズ」...

LASERTEC sicwen缺陷检查/评论装置 SICA6X

品牌:LASERTEC  规格:SiCウェハに最適なコンフォーカ...

用途:SiCウェハ、エピウェハの出荷・受入検査 SiCエピタキ...

LASERTEC 观测激光显微镜系统 VL2000DX-SVF17SP...

品牌: LASERTEC  规格:コンフォーカル光学系により、高...

用途:鉄鋼、金属各種、セラミックス、その他無機系材料、化...

LASERTEC sicwen缺陷检查/评论装置 SICA88...

品牌:LASERTEC  规格:表面欠陥と同時にエピ膜付きウェ...

用途:SiCウェハ、エピウェハの出荷・受入検査 SiCエピタキ...